基于等值盐密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法技术

本发明专利技术公开了一种基于等值盐密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法，以同地点且同高度悬挂的标准盘形悬式瓷绝缘子的积污难易度为基准，得到待标定绝缘子相对于标准盘形悬式瓷绝缘子的积污难易度的比值，然后将比值的集合作为归一化等值盐密，再将归一化等值盐密样本中的离群值进行剔除，最后再基于等值盐密参数的绝缘子积污难易度特征值的求解。本发明专利技术能够避免外绝缘配置的盲目性，标定结果更为准确，同时能够避免对该型号绝缘子进行重复积污试验，节省企业的人力、财力和物力。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电力系统外绝缘领域，尤其涉及一种基于等值盐密参数的悬式绝缘子 积污难易程度的标定方法。
技术介绍
目前，电力系统输电线路所用的悬式瓷和玻璃绝缘子已不局限于标准盘形悬式 绝缘子。典型的悬式绝缘子的外形分为四种：标准外形，空气动力学外形（或称为开放外 形），防雾外形，双层伞与三层伞外形（外伞形）。 四种典型外形的瓷和玻璃悬式绝缘子的积污难易度已被定性地区分。比如，标准 外形较易积污，可用于污秽很轻的地区，空气动力学外形相比于标准外形不易积污，可用于 严重污染的工业地区等。但是，如何定量标定不同型号瓷和玻璃绝缘子的积污难易度的问 题目前还没有得到解决。 等值盐密（equivalent salt deposit density，ESDD)是用于度量绝缘子积污水 平的参数之一，等值盐密表示绝缘子表面可溶污秽的积累量。目前，普遍采用人工擦洗绝缘 子表面污秽的方法进行等值盐密的测算，但该方法存在较大的随机误差，直接导致同一地 区同种绝缘子的等值盐密测算值变化范围较大，而在不同地区测得的绝缘子等值盐密测算 值数值则相差更大。 综上所述，现有的悬式绝缘子积污难易程度标定方法已无法满足实际工作的需 要，亟需一种标定结果更为准确的且适用于不同型号悬式瓷和玻璃绝缘子积污难易度的标 定方法。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于等值盐密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标 定方法，能够避免外绝缘配置的盲目性，标定结果更为准确，同时能够避免对该型号绝缘子 进行重复积污试验，节省企业的人力、财力和物力。 本专利技术采用下述技术方案： ，其特征在于，包括以 下步骤： A:分别测量N个待标定绝缘子表面的等值盐密，然后将标准盘形悬式绝缘子作为 参照绝缘子，测量与每个待标定绝缘子同地点同高度悬挂的标准盘形悬式绝缘子表面的等 值盐密；然后进入步骤B; B :以标准盘形悬式绝缘子的等值盐密作为基准，分别计算每一个待标定绝缘子的 等值盐密与对应的标准盘形悬式绝缘子的等值盐密的比值，该比值作为归一化等值盐密； 然后将待标定绝缘子的N个归一化等值盐密放于同一集合中，得到该待标定绝缘子的归一 化等值盐密集合；然后进入步骤C; C:计算该待标定绝缘子的归一化等值盐密集合中所有数据的平均值无和标准差 S;然后进入步骤D; 平均值无的计算公式为： 其中，XiS归一化等值盐密集合中的归一化等值盐密数据，i = 1，2，……，N; 标准差s的计算公式为：其中，Xi为归一化等值盐密集合中的归一化等值盐密数据，无为待标定绝缘子的 归一化等值盐密集合中的所有数据的平均值，i = 1，2,……，N ; D :计算归一化等值盐密集合中的可疑值文；然后根据得到的可疑值f计算用于检 验可疑值支是否为归一化等值盐密集合中离群值的检验统计量g ;然后进入步骤E ; 可疑值i的计算公式为： 检验统计量g的计算公式为： 其中，Xmin为归一化等值盐密集合中所有数据中的最小值，x _为归一化等值盐密 集合中所有数据中的最大值，J为待标定绝缘子的归一化等值盐密集合中的所有数据的平 均值；s为待标定绝缘子的归一化等值盐密集合中所有数据的标准差； E:利用判断公式判断归一化等值盐密集合中的可疑值i是否为离群值，判断公式 为 g>gP(N);其中，，gP(N)为离群值检验的临界值，下标p为 point首字母并非变量，2为自由度为（N-2)的t分布在显著性水平为a / (2N)时的临界值；在判断归一化等值盐密集合中的可疑值f是否为离群值时，若g>gP(N)，则将此可 疑值i从归一化等值盐密集合中排除，然后返回步骤D ;若g彡gp (N)，则进入步骤F ; F:计算排除了离群值的等值盐密集合对应的正态总体期望的95%置信区间上界 cu，计算公式为；以计算得到的等值盐密集合对应的正态总体期望的 95%置信区间上界cu作为待标定绝缘子的等值盐密标定值；标准盘形悬式绝缘子的积污难 易度特征值为1，即标准盘形悬式绝缘子的等值盐密标定值为1 ; 其中，N#为排除了离群值的归一化等值盐密集合中的等值盐密数据个数，了为排 除了离群值的归一化等值盐密集合中所有数据的平均值，s'为排除了离群值的归一化等 值盐密集合中所有数据的标准差：表示自由度为（N*_l)的t分布在显著 性水平为-时的临界值，？的计算公式为，其中，Xi'为排除了离群值的归一化等值盐密集合中的归一化 等值盐密数据，i = 1，2，……，N% 标准差s'的计算公式为： 其中，Xi'为排除了离群值的归一化等值盐密集合中的归一化等值盐密数据，7 为排除了离群值的归一化等值盐密集合中所有数据的平均值，N#为排除了离群值的归一化 等值盐密集合中的等值盐密数据个数，i = 1，2,……，N' 所述的步骤A中，待标定绝缘子的数量N大于等于10个。 所述的步骤A中，采用人工擦洗绝缘子表面污秽的方法测量N个待标定绝缘子表 面的等值盐密。 本专利技术以同地点且同高度悬挂的标准盘形悬式瓷绝缘子的积污难易度为基准，得 到待标定绝缘子相对于标准盘形悬式瓷绝缘子的积污难易度的比值，然后将比值的集合作 为归一化等值盐密，再将归一化等值盐密样本中的离群值进行剔除，最后再基于等值盐密 参数的绝缘子积污难易度特征值的求解。本专利技术能够避免外绝缘配置的盲目性，标定结果 更为准确，同时能够避免对该型号绝缘子进行重复积污试验，节省企业的人力、财力和物 力。【附图说明】 图1为本专利技术的流程示意图；图2为本专利技术中归一化等值盐密集合剔除离群值的流程示意图。【具体实施方式】 以下结合附图和实施例对本专利技术作以详细的描述： 如图1和图2所示，本专利技术所述的基于等值盐密参数的悬式绝缘子积污难易程度 的标定方法，包括以下步骤： A :分别测量N个待标定绝缘子表面的等值盐密，然后将标准盘形悬式绝缘子作为 参照绝缘子，测量与每个待标定绝缘子同地点同高度悬挂的标准盘形悬式绝缘子表面的等 值盐密；然后进入步骤B; 步骤A中，由于绝缘子表面积污受天气、环境等外界因素的影响，因而同种绝缘子 在不同地点的积污水平有别。但是不同型号的悬式瓷和玻璃绝缘子间的积污难易度差异 是固定的，而标准盘形悬式绝缘子的结构简单，又是最早出现的绝缘子种类，因此本专利技术中 采用不同型号的悬式瓷和玻璃绝缘子相互对比，并以标准盘形悬式瓷绝缘子作为参照绝缘 子，以标准盘形悬式瓷绝缘子的积污难易度为基准，以得到其他型号悬式瓷和玻璃绝缘子 相对于标准盘形悬式瓷绝缘子的积污难易度的比值，并将该比值的数学期望作为此型号绝 缘子的归一化积污难易度特征值。 进一步的，为了得到能够表现出待标定绝缘子与标准盘形悬式绝缘子积污难易程 度差异的量，必须选择与待标定绝缘子悬挂位置尽可能相同的标准盘形悬式绝缘子，以保 证两种不同型号绝缘子的等值盐密比值波动相对较小。因此，本专利技术中所选的标准盘形悬 式绝缘子必须与对应的待标定绝缘子是同地点且同高度悬挂。 更进一步的，为了能够尽可能的得到较为全面客观的数据，以提高待标定绝缘子 积污难易程度评价的准确度，本专利技术中待标定绝缘子与标准盘形悬式绝缘子数量相等且 --对应，待标定绝缘子的数量N大于等于10个。 步骤A中，采用人工擦洗绝缘子表面污秽的方法测量N个待标定绝缘子表面的等 值盐密。 B本文档来自技高网...

【技术保护点】
基于等值盐密参数的悬式绝缘子积污难易程度的标定方法，其特征在于，包括以下步骤：A：分别测量N个待标定绝缘子表面的等值盐密，然后将标准盘形悬式绝缘子作为参照绝缘子，测量与每个待标定绝缘子同地点同高度悬挂的标准盘形悬式绝缘子表面的等值盐密；然后进入步骤B；B：以标准盘形悬式绝缘子的等值盐密作为基准，分别计算每一个待标定绝缘子的等值盐密与对应的标准盘形悬式绝缘子的等值盐密的比值，该比值作为归一化等值盐密；然后将待标定绝缘子的N个归一化等值盐密放于同一集合中，得到该待标定绝缘子的归一化等值盐密集合；然后进入步骤C；C：计算该待标定绝缘子的归一化等值盐密集合中所有数据的平均值和标准差s；然后进入步骤D；平均值的计算公式为：x‾=1NΣi=1Nxi,]]>其中，xi为归一化等值盐密集合中的归一化等值盐密数据，i＝1,2，……，N；标准差s的计算公式为：s=1NΣi=1N(xi-x‾)2;]]>其中，xi为归一化等值盐密集合中的归一化等值盐密数据，为待标定绝缘子的归一化等值盐密集合中的所有数据的平均值，i＝1,2，……，N；D：计算归一化等值盐密集合中的可疑值然后根据得到的可疑值计算用于检验可疑值是否为归一化等值盐密集合中离群值的检验统计量g；然后进入步骤E；可疑值的计算公式为：x^=xmax,(xmax-x‾)>(x‾-xmin)xmin,(xmax-x‾)<(x‾-xmin);]]>检验统计量g的计算公式为：g=|x^-x‾|/s;]]>其中，xmin为归一化等值盐密集合中所有数据中的最小值，xmax为归一化等值盐密集合中所有数据中的最大值，为待标定绝缘子的归一化等值盐密集合中的所有数据的平均值；s为待标定绝缘子的归一化等值盐密集合中所有数据的标准差；E：利用判断公式判断归一化等值盐密集合中的可疑值是否为离群值，判断公式为g>gP(N)；其中，gp(N)=N-1Nta2N,N-22N-2+ta2N,N-22,]]>gP(N)为离群值检验的临界值，下标p为point首字母并非变量，α＝0.95，为自由度为(N‑2)的t分布在显著性水平为α/(2N)时的临界值；在判断归一化等值盐密集合中的可疑值是否为离群值时，若g>gP(N)，则将此可疑值从归一化等值盐密集合中排除，然后返回步骤D；若g≤gp(N)，则进入步骤F；F：计算排除了离群值的等值盐密集合对应的正态总体期望的95％置信区间上界cu，计算公式为以计算得到的等值盐密集合对应的正态总体期望的95％置信区间上界cu作为待标定绝缘子的等值盐密标定值；标准盘形悬式绝缘子的积污难易度特征值为1，即标准盘形悬式绝缘子的等值盐密标定值为1；其中，N*为排除了离群值的归一化等值盐密集合中的等值盐密数据个数，为排除了离群值的归一化等值盐密集合中所有数据的平均值，s′为排除了离群值的归一化等值盐密集合中所有数据的标准差；α＝0.95，表示自由度为(N*‑1)的t分布在显著性水平为时的临界值，的计算公式为其中，x′i为排除了离群值的归一化等值盐密集合中的归一化等值盐密数据，i＝1,2，……，N*；标准差s′的计算公式为：s′=1N*Σi=1N*(xi′-x′‾)2]]>其中，x′i为排除了离群值的归一化等值盐密集合中的归一化等值盐密数据，为排除了离群值的归一化等值盐密集合中所有数据的平均值，N*为排除了离群值的归一化等值盐密集合中的等值盐密数据个数，i＝1,2，……，N*。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：卢明，李黎，李瑶琴，任欢，张宇鹏，刘泽辉，魏建林，杨晓辉，王广周，
申请(专利权)人：国网河南省电力公司电力科学研究院，华中科技大学，国家电网公司，
类型：发明
国别省市：河南;41