本实用新型专利技术涉及电磁兼容测试技术领域，具体的讲是一种三维磁场测试设备，底座一的两端分别与固定支架一的一端和固定支架二的一端相固定，固定支架一的另一端与测试圈一外缘的一侧相连，固定支架二的另一端与测试圈一外缘的另一侧相连，底座二的两端也分别与固定支架三的一端、固定支架四的一端相连接，固定支架三的另一端与测试圈二外缘一侧相连接，固定支架四的另一端与测试圈二外缘的另一侧相连接，所述测试圈一和测试圈二的内缘设有若干测试头，所述底座一与底座二相互十字交叉，底座一与底座二的交叉点采用支架与置物台相固定，本实用新型专利技术结构简单，检测效率高。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及电磁兼容测试
，具体的讲是一种三维磁场测试设备。
技术介绍
常用的磁场测试仪器大多是将待测设备防止在测试平台上后，由扫描测试头针对几个固定点进行扫描测试，无法对待测设备全身进行检测，从而得出待测设备是否质量合格，但是这样的测试局限性很大，得出的检测结果也会有较大的误差甚至是错误的数值，使得待测设备的检测结果带有很大的不确定性，在使用中容易出现损坏甚至是造成安全事故。为此设计一种方便快速全能的磁场测试设备是十分重要的。
技术实现思路
本技术是设计了一种方便快速全能的磁场测试设备，具体的讲是一种三维磁场测试设备，包括底座，测试圈，置物台和测试头，其特征在于:诉述底座一的两端分别与固定支架一的一端和固定支架二的一端相固定，固定支架一的另一端与测试圈一外缘的一侧相连，固定支架二的另一端与测试圈一外缘的另一侧相连，底座二的两端也分别与固定支架三的一端、固定支架四的一端相连接，固定支架三的另一端与测试圈二外缘一侧相连接，固定支架四的另一端与测试圈二外缘的另一侧相连接，所述测试圈一和测试圈二的内缘设有若干测试头，所述底座一与底座二相互十字交叉，底座一与底座二的交叉点采用支架与置物台相固定。所述测试圈一在测试圈二的外围。所述测试圈一的水平直径与测试圈二的竖直直径呈90°交叉。所述固定支架一、固定支架二与测试圈一相固定的位置设有旋转头。所述固定支架三、固定支架四与测试圈二相固定的位置也设有旋转头。本技术与现有技术相比，采用了交叉的测试圈，并且在测试圈的内部设有若干测试头，使得被检测的物件可以在各个角度得到全面的检测，并且节省了检测的时间，提尚了检测的效率。【附图说明】图1为本技术的结构示意图。参见图1，I为底座一，2为底座二，3为固定支架一，4为固定支架二，5为固定支架三，6为固定支架四，7为测试圈一，8为测试圈二，9为置物台，10为测试头。【具体实施方式】结合附图对本技术作进一步描述。参见图1，本技术设计了一种三维磁场测试设备，包括底座，测试圈，置物台9和测试头10，所述底座一 I的两端分别与固定支架一 3的一端和固定支架二 4的一端相固定，固定支架一 3的另一端与测试圈一 7外缘的一侧相连，固定支架二 4的另一端与测试圈一 7外缘的另一侧相连，底座二 2的两端也分别与固定支架三5的一端、固定支架四6的一端相连接，固定支架三5的另一端与测试圈二 8外缘一侧相连接，固定支架四6的另一端与测试圈二 8外缘的另一侧相连接，所述测试圈一 7和测试圈二8的内缘设有若干测试头10，所述底座一 I与底座二 2相互十字交叉，底座一 I与底座二 2的交叉点采用支架与置物台9相固定。本技术中测试圈一 7在测试圈二 8的外围。本技术中测试圈一 7的水平直径与测试圈二 8的竖直直径呈90°交叉；使得放置在置物台9上的机械可以得到三维的磁场检测。本技术中固定支架一 3、固定支架二 4与测试圈一 7相固定的位置设有旋转头O本技术中固定支架三5、固定支架四6与测试圈二 8相固定的位置也设有旋转头O本技术中测试圈一 7和测试圈二 8可进行旋转，使得置物台9上的机械可以在各个角度得到检测。在具体实施中，将待检测的机械放置在置物台9上，在测试过程中测试圈一 7和测试圈二 8进行旋转，对置物台9上的机械进行全方面的检测。本技术与现有技术相比，采用了交叉的测试圈，并且在测试圈的内部设有若干测试头，使得被检测的物件可以在各个角度得到全面的检测，并且节省了检测的时间，提尚了检测的效率。【主权项】1.一种三维磁场测试设备，包括底座，测试圈，置物台和测试头，其特征在于:所述底座一(I)的两端分别与固定支架一(3)的一端和固定支架二(4)的一端相固定，固定支架一(3)的另一端与测试圈一(7)外缘的一侧相连，固定支架二(4)的另一端与测试圈一(7)外缘的另一侧相连，底座二(2)的两端也分别与固定支架三(5)的一端、固定支架四(6)的一端相连接，固定支架三(5)的另一端与测试圈二(8)外缘一侧相连接，固定支架四(6)的另一端与测试圈二(8)外缘的另一侧相连接，所述测试圈一(7)和测试圈二(8)的内缘设有若干测试头(10)，所述底座一(I)与底座二(2)相互十字交叉，底座一(I)与底座二(2)的交叉点采用支架与置物台(9)相固定。2.根据权利要求1所述的一种三维磁场测试设备，其特征在于:所述测试圈一(7)在测试圈二(8)的外围。3.根据权利要求1所述的一种三维磁场测试设备，其特征在于:所述测试圈一(7)的水平直径与测试圈二(8)的竖直直径呈90°交叉。4.根据权利要求1所述的一种三维磁场测试设备，其特征在于:所述固定支架一(3)、固定支架二(4)与测试圈一(7)相固定的位置设有旋转头。5.根据权利要求1所述的一种三维磁场测试设备，其特征在于:所述固定支架三(5)、固定支架四(6)与测试圈二(8)相固定的位置也设有旋转头。【专利摘要】本技术涉及电磁兼容测试
，具体的讲是一种三维磁场测试设备，底座一的两端分别与固定支架一的一端和固定支架二的一端相固定，固定支架一的另一端与测试圈一外缘的一侧相连，固定支架二的另一端与测试圈一外缘的另一侧相连，底座二的两端也分别与固定支架三的一端、固定支架四的一端相连接，固定支架三的另一端与测试圈二外缘一侧相连接，固定支架四的另一端与测试圈二外缘的另一侧相连接，所述测试圈一和测试圈二的内缘设有若干测试头，所述底座一与底座二相互十字交叉，底座一与底座二的交叉点采用支架与置物台相固定，本技术结构简单，检测效率高。【IPC分类】G01R33/02【公开号】CN204631232【申请号】CN201520272029【专利技术人】杨鹏 【申请人】上海优立检测技术有限公司【公开日】2015年9月9日【申请日】2015年4月29日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种三维磁场测试设备，包括底座，测试圈，置物台和测试头，其特征在于：所述底座一（1）的两端分别与固定支架一（3）的一端和固定支架二（4）的一端相固定，固定支架一（3）的另一端与测试圈一（7）外缘的一侧相连，固定支架二（4）的另一端与测试圈一（7）外缘的另一侧相连，底座二（2）的两端也分别与固定支架三（5）的一端、固定支架四（6）的一端相连接，固定支架三（5）的另一端与测试圈二（8）外缘一侧相连接，固定支架四（6）的另一端与测试圈二（8）外缘的另一侧相连接，所述测试圈一（7）和测试圈二（8）的内缘设有若干测试头（10），所述底座一（1）与底座二（2）相互十字交叉，底座一（1）与底座二（2）的交叉点采用支架与置物台（9）相固定。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨鹏，
申请(专利权)人：上海优立检测技术有限公司，
类型：新型
国别省市：上海;31
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。