【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种基于双面共焦的透镜中心厚度测量装置，其特征在于：包括含有光谱仪的控制器、光学探头Ⅰ、二维移动架、透镜夹具、光学探头Ⅱ、支架以及计算机，所述光学探头Ⅰ、二维移动架和光学探头Ⅱ均固定在支架上，所述透镜夹具装卡在二维移动架上，所述含有光谱仪的控制器通过光纤分别与光学探头Ⅰ和光学探头Ⅱ相连，所述光学探头Ⅰ和光学探头Ⅱ正对设置且两个光学探头的中心位于同一轴线上，所述二维移动架位于两个光学探头之间，且二维移动架与两个光学探头的中心轴线相垂直，所述计算机通过数据线与含有光谱仪的控制器相连接，用以接收数据。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：姚红兵，李丽淋，吴迪富，孙玉娟，单国云，吴广剑，薛海燕，
申请(专利权)人：江苏宇迪光学股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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