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本发明公开了一种基于双面共焦的透镜中心厚度测量装置，其特征在于：包括含有光谱仪的控制器、光学探头Ⅰ、二维移动架、透镜夹具、光学探头Ⅱ、支架以及计算机，所述光学探头Ⅰ、二维移动架和光学探头Ⅱ均固定在支架上，所述透镜夹具装卡在二维移动架上，所述...
该专利属于江苏宇迪光学股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过江苏宇迪光学股份有限公司授权不得商用。

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