【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种基于光学相位解调的透镜中心厚度测量装置，其特征在于，包括激光聚焦光源、分光镜Ⅰ、反射镜Ⅰ、反射镜Ⅱ、分光镜Ⅱ、功率检测仪和计算机，所述激光聚焦光源、分光镜Ⅰ和反射镜Ⅰ处于同一水平直线上，所述分光镜Ⅰ位于激光聚焦光源和反射镜Ⅰ之间，所述反射镜Ⅱ位于分光镜Ⅰ的正下方，所述分光镜Ⅱ位于反射镜Ⅰ的正下方，所述反射镜Ⅱ、分光镜Ⅱ和功率检测仪处于同一水平直线上，所述计算机接收功率检测仪的数据。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：孙玉娟，吴迪富，姚红兵，李丽淋，单国云，吴广剑，
申请(专利权)人：江苏宇迪光学股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。