一种无磁杜瓦电磁屏蔽性测试方法及装置制造方法及图纸

技术编号:11412917 阅读:49 留言:0更新日期:2015-05-06 12:44
本发明专利技术提供一种无磁杜瓦电磁屏蔽性测试方法及装置,测试装置包括:用于产生变频信号的信号发生器;与所述信号发生器相连,用于对所述信号发生器输出的变频信号进行放大的第一射频放大器;与所述第一射频放大器相连并套设在杜瓦瓶外侧,用于发射所述第一射频放大器输出的变频信号的电磁发射环;设置在杜瓦瓶内部用于接收所述电磁发射环所发射的变频信号以产生磁信号的电磁接收天线;与所述电磁接收天线相连,用于对所述电磁接收天线接收的磁信号进行放大的第二射频放大器;与所述第二射频放大器相连,用于显示放大之后的磁信号以确定所述杜瓦瓶电磁屏蔽性的输出显示设备。本发明专利技术能简单便捷地实现对无磁杜瓦瓶经电磁屏蔽处理后的屏蔽性能测试。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种无磁杜瓦瓶电磁屏蔽性测试方法,用于在杜瓦瓶倒置时的电磁屏蔽性测试,其特征在于,所述测试方法包括:提供一信号发生器,并在所述杜瓦瓶外侧且环绕所述杜瓦瓶设置一连接所述信号发生器的电磁发射环,及在所述杜瓦瓶内部设置一电磁接收天线;令所述信号发生器发射变频信号,并对所述变频信号进行放大处理,以使经放大处理后的变频信号通过所述电磁发射环环绕于所述杜瓦瓶的外侧;通过所述电磁接收天线接收环绕于所述杜瓦瓶的外侧的变频信号以产生磁信号;采集所述杜瓦瓶内部的电磁接收天线接收的磁信号,并对所述磁信号进行放大处理;显示经过放大处理的磁信号以确定所述杜瓦瓶电磁屏蔽性。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:蒋坤伍俊常凯荣亮亮张树林孔祥燕谢晓明
申请(专利权)人:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
类型:发明
国别省市:上海;31

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