下载一种晶体位错腐蚀检测方法的技术资料

文档序号:9856804

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本发明公开了一种晶体位错腐蚀检测方法,属于缺陷腐蚀检测技术领域,主要技术方案包括以下步骤:将样品待测面处理到预定的表面光洁度;对样品的观测点进行确定并标识;对样品除观测点以外的表面进行涂覆;将涂覆好的样品进行抛光;将抛光好的样品进行清洗;对...
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