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本发明公开了一种半导体装置及其检测方法。半导体装置包括电阻端、模仿拉升驱动器、比较器以及检测状态器。电阻端用来连接外部电阻。模仿拉升驱动器提供20级至2N+1-1级的驱动动作，其中N为自然数。比较器反应于测试电压与参考电压以输出比较信号。测...
该专利属于华邦电子股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华邦电子股份有限公司授权不得商用。

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