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本申请公开了一种用于可靠性测试设备的测试针卡，所述测试针卡具有16个测试引脚，其中14个测试引脚呈一字排列，称为第一排；另2个测试引脚也呈一字排列，称为第二排；并且第二排的2个测试引脚与第一排的最后2个测试引脚排列为2×2的形态。本申请所设...
该专利属于上海华虹宏力半导体制造有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹宏力半导体制造有限公司授权不得商用。

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