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本发明一种刻度氙气样品HPGe探测效率的装置及方法，包括放射源、多个不同高度的装有空气的聚乙烯盒、探测器；放射源包括133Ba面源和137Cs点源；面源铝底衬作为上吸收层；137Cs点源位于133Ba面源上面中心位置；133Ba面源位于装空...
该专利属于西北核技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西北核技术研究所授权不得商用。

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