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本发明基于一种用于检验支承件（7）或基片（13）上的电子部件（9、10）的设备，带有用于支承件（7）或基片（13）的定位和保持装置（6），带有测试头（1）和与之连接的检验座（3、14），使得支承件（7）或基片（13）上的多个电子部件（9）可...
该专利属于马提特斯电子系统有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过马提特斯电子系统有限公司授权不得商用。

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