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杭州晟元芯片技术有限公司
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一种芯片测试模式和调试模式的保护方法技术
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文档序号:9694972
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本发明涉及一种芯片测试模式和调试模式的保护方法,包括如下步骤:芯片上电,第一级复位释放。上电控制逻辑自动从非易失存储体读取数据a和b。测试模式控制单元判断是否需要对测试模式关闭。调试模式控制单元判断是否需要对调试模式关闭。第二级复位释放之后...
该专利属于杭州晟元芯片技术有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州晟元芯片技术有限公司授权不得商用。
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