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单晶晶面偏角及偏向测算方法属于单晶材料定向检测及加工技术领域。现有技术需要反复对晶体做偏角定向。本发明采用X射线晶体定向仪测量待测晶面上位于同一平面上的任意三点衍射角，标注所测三点的位置；连接所测三点成三角形，量出所述三角形边长并计算内角；...
该专利属于长春理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过长春理工大学授权不得商用。

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