温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及在半导体芯片器件中的集成缺陷检测及定位系统和方法。实施例涉及用于半导体芯片中的缺陷检测和定位的系统和方法。在一个实施例中，多个寄存器被布置在半导体芯片中。寄存器的具体数目能够根据所期定位水平而改变，并且该多个寄存器在几何学上分布从...
该专利属于英飞凌科技奥地利有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过英飞凌科技奥地利有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。