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本发明涉及用于非易失性存储器测试的装置及方法，该用于非易失性存储器测试的装置包括用于驱动待处理的非易失性存储器执行编程操作的编程驱动模块、用于驱动所述非易失性存储器执行擦除操作的擦除驱动模块、用于输入时钟信号的时钟输入模块、用于根据所述时钟...
该专利属于辉芒微电子(深圳)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过辉芒微电子(深圳)有限公司授权不得商用。

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