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本发明公开了一种耦合器校准方法，该校准方法包括如下步骤：利用第一耦合器校准装置和第二耦合器校准装置测量待测耦合器的耦合度本底值和反射系数本底值；利用高温箱将待测耦合器的温度升高至需要的温度并且保持该温度稳定；利用矢量网络分析仪测量待测耦合器...
该专利属于北京无线电计量测试研究所所有，仅供学习研究参考，未经过北京无线电计量测试研究所授权不得商用。

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