温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

公开了非易失性存储器阵列中检测读取失败的方法和存储器系统。一种在非易失性存储器阵列中检测即将发生的读取失败的技术包括施加批量读取应力于所述非易失性存储器阵列的多个单元以及在所述批量读取应力之后确定在阵列完整性检查期间所述多个单元在余裕读取验...
该专利属于飞思卡尔半导体公司所有，仅供学习研究参考，未经过飞思卡尔半导体公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。