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本发明公开了一种加速度传感器芯片生产校验补偿方法，加速度传感器芯片生产校验补偿方法旨在用于加速度传感器芯片批量生产测试，加速度传感器芯片生产校验补偿方法是用校准过的成品加速度传感器芯片做参考，成品加速度传感器芯片和待测成品矩阵排列放在特定旋...
该专利属于浙江工业职业技术学院所有，仅供学习研究参考，未经过浙江工业职业技术学院授权不得商用。

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