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本发明涉及一种提高无机非金属材料样品能谱面分布图像质量的方法，该方法包括以下步骤：(1)样品安装；(2)粘贴导电胶；(3)用硅漂移电制冷X射线能谱探测器采集元素的能谱面分布图像。本发明所述的图像采集方法，能够增大元素能谱图像中化学组成相近物...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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