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提供一种虚拟故障地址产生系统、冗余分析仿真系统及其方法。并提供一种故障分布产生系统。所述故障分布产生系统包括：故障地址映射模块，接收将包括在半导体装置中的故障表示为具有多个不同故障等级的多个像素的故障比特映射以及包括在半导体装置中的故障的故...
该专利属于三星电子株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过三星电子株式会社授权不得商用。

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