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本发明公开了一种光器件测量方法，属于光器件测量、微波光子学技术领域。本发明在现有基于光单边带调制的光器件测量方法的基础上，采用两种光单边带探测信号（即包含载波和载波抑制的光单边探测信号）相结合的方法，消除了由光单边带探测信号中相邻高阶边带间...
该专利属于南京航空航天大学所有，仅供学习研究参考，未经过南京航空航天大学授权不得商用。

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