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下载缺损分类的技术资料

文档序号:9296070

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一种对介质项目中的缺损进行分类的方法。所述方法包括步骤:接收所述介质项目的二进制图像,其中所述二进制图像包括多个像素,每一个像素都具有潜在的缺损亮度或非缺损亮度;并且识别一个或多个包括连续像素的斑点,其中每一个连续像素都具有潜在的缺损亮度。...
该专利属于NCR公司所有,仅供学习研究参考,未经过NCR公司授权不得商用。

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