缺损分类制造技术

一种对介质项目中的缺损进行分类的方法。所述方法包括步骤：接收所述介质项目的二进制图像，其中所述二进制图像包括多个像素，每一个像素都具有潜在的缺损亮度或非缺损亮度；并且识别一个或多个包括连续像素的斑点，其中每一个连续像素都具有潜在的缺损亮度。对于每一个识别出的斑点，所述方法包括将所述斑点的尺寸与损坏阈值进行比较；如果所述斑点尺寸小于所述损坏阈值则忽略所述斑点；并且对每一个具有的尺寸超过或等于所述损坏阈值的识别出的斑点，分类识别出的斑点。

【技术实现步骤摘要】
介质验证器和对缺损进行分类的方法
本专利技术涉及缺损分类。具体但不排它地，本专利技术涉及介质项目中的自动化缺损分类，例如那些存储在自助终端机(SSTs)中的介质项目。本专利技术也涉及基于分类缺损的介质项目评估。
技术介绍
一些自助终端机(SSTs)，例如自动柜员机(ATMs)，能够接受由顾客存储的纸币(或支票)形式的介质项目。一些货币发行机构(例如欧洲中央银行)已经要求银行应当将任何被认为不适宜继续流通的货币捕获并返回到所述机构。当货币被交给银行职员时，由于该职员可以亲自检查所述纸币，所以执行起来相对容易，但是当纸币被存储进自动柜员机时，由于没有人员参与，这便难以执行了。
技术实现思路
因此，本专利技术主要提供用于在介质项目中自动分类缺损的方法、系统、装置和软件。除了上文提供的专利技术摘要和在下文的具体说明中所公开的主题之外，如果需要，这个章节的如下段落意欲为在这个申请过程中可能应用的可选择的权利要求的用语提供更进一步的基础。如果本申请获得授权，一些方面可能涉及在本申请诉讼期间增加的权利要求，其它方面可能涉及在诉讼期间删除的权利要求，其它方面可能涉及未主张的主题。而且，除非另有说明，否则下文中详细说明的各个方面是彼此独立的。对应于某一方面的任何权利要求都不应当被解释为合并了其它方面的任何元素或特征，除非在该权利要求中有明确说明。根据第一方面提供了一种对介质项目中的缺损进行分类的方法，所述方法包括以下步骤：接收所述介质项目的二进制图像，其中所述二进制图像包括多个像素，每一个像素都具有潜在缺损亮度或非缺损亮度；识别包括连续像素的一个或多个斑点，每一个连续像素都具有潜在缺损亮度；对于每一个识别出的斑点，将所述斑点的尺寸与损坏阈值进行比较；如果所述斑点的尺寸小于所述斑点阈值则忽略所述斑点；以及对于每一个具有的尺寸大于或等于所述损坏阈值的识别出的斑点，分类所述识别出的斑点。如本文中所用的“斑点”包括图像内的连续像素，这些像素都具有相似性质(例如，亮度)，该性质不同于周围像素的对应性质(在本示例中是亮度)。所述两个亮度值可分别代表高亮度和低亮度。如果传输被用于创建所述图像，那么所述潜在缺损亮度可包括高亮度；可选的，如果反射被用于创建所述图像，那么所述潜在缺损亮度可包括低亮度。识别一个或多个斑点的步骤可包括使用区域增长算法(关于这种算法的一个示例在IEEE中1998年7月发行，卷7，第7号，页码1079-1084，题目为“区域增长：一种在图像处理中S.A.Hojjatoleslami和J.Kittler处理的新方法”中进行了描述(IEEERegionGrowing:ANewApproachS.A.HojjatoleslamiandJ.KittlerTRANSACTIONSONIMAGEPROCESSING,VOL.7,NO.7,JULY1998page1079–1084)、分裂和合并算法(关于这种算法的一个示例在1974年发表在丹麦Proc.ICPR页码424-433中S.L.HorowitzandT.Pavlidis的“通过直接分裂和合并程序的图像分割”中进行了描述(S.L.HorowitzandT.Pavlidis,PictureSegmentationbyaDirectedSplitandMergeProcedure,Proc.ICPR,1974,Denmark,pp.424-433)或任何其它适宜的算法。这两种算法是计算密集型算法。有利地，识别一个或多个斑点的步骤可包括改进的合并-查找结构算法(amodifiedunion-findstructurealgorithm)。该改进的合并-查找结构算法可包括：在所述二进制图像的每一行上识别出连续并且具有潜在缺损亮度的每一个像素组；对每一个行边界识别出：(i)上行中至少与下行中的组部分重叠的每一个组，并且将这两个组合并成作为增长斑点的新的单一组,(ii)上行中未与下行中的组重叠的每一个组，并且将上行中每一个这样的组表征为完整的斑点，以及(iii)下行中未与上行中的组重叠的每一个组，并且将每一个这样的组表征为增长斑点。当改进的合并-查找结构算法完成时，即可给出一个或多个完整的斑点。优选地，对于每一个完整的斑点，存储所述斑点的位置、尺寸和规格。分类所述识别的斑点的步骤可包括的类别有：撕裂、缺失部分(包括角部缺失)、角部折叠和洞。分类所述识别的斑点的步骤可包括进一步的步骤：(a)如果所述斑点未接触所述介质项目的其中一个边缘，那么就将所述识别出的斑点归类为洞。如果识别出的斑点与所述介质项目的边缘未连接，那么就可以将其归类为洞。分类所述识别的斑点的步骤可包括进一步的步骤：(b)如果所述识别出的斑点确实接触了所述介质项目的其中一个边缘，但是并不在所述介质项目的其中一个角部，那么将所述识别的斑点归类为撕裂/缺失部分。所述识别出的斑点是撕裂还是缺失部分取决于所述识别出斑点的尺寸，所以将所述识别出的斑点进行分类的步骤可包括进一步的步骤：将所述识别出的斑点的尺寸与撕裂尺寸的最大值进行比较，以便将所述识别出的斑点归类为撕裂或缺失部分。分类所述识别出的斑点的步骤可包括进一步的步骤：(c)如果所述识别出的斑点确实接触了所述介质项目的其中一个角部，那么就判别所述识别出的斑点是否为角部折叠。判别所述识别出的斑点是否为角部折叠的步骤可包括将潜在角部重叠区域的像素亮度与相邻非重叠区域的像素亮度进行比较。分类所述识别出的斑点的步骤可包括进一步的步骤：(d)如果所述识别出的斑点确实接触了所述介质项目的其中一个角部但不是角部折叠，那么就将所述识别出的斑点归类为缺失部分，或者如果需要就更精确地归类为角部缺失。分类所述识别出的斑点的步骤可包括进一步的步骤：(e)如果所识别出的斑点确实接触了所述介质项目的其中一个角部并且是角部折叠，那么就将所述识别出的斑点归类为角部折叠。所述方法可包括将适用度规则应用到所述被分类的斑点上以判别所述介质项目是否应被归类为不适用的附加步骤。所述适用度规则可以包括针对每一个缺损分类的不同的规则集合。例如，如果所述介质项目具有大于或等于十平方毫米的洞(10mm2)，那么介质项目即可因为不适用而被拒绝；或者如果角部折叠具有长于或等于十毫米(10mm)的较短边缘并且其面积大于或等于130mm2，那么介质项目即可因为不适用而被拒绝。所述方法可包括在接收所述介质项目的二进制图像的步骤之前捕获所述介质项目的图像并且随后由所捕获的图像创建二进制图像的其它步骤。捕获所述介质项目的图像的步骤可进一步包括捕获所述介质项目的传输图像。使用在所述介质项目一侧的电磁辐射发射机和在所述介质项目另一侧的电磁辐射探测器可捕获传输图像。在一个实施例中，所使用的电磁辐射是红外线辐射。捕获所述介质项目的图像的步骤可包括使用8位来记录每一个像素的亮度值(给出从0到255的亮度值范围)。可选地，可以使用任何适当的位数，例如16位可以提供在0到65535之间的亮度值范围。所述方法可以包括调整所接收的图像的空间尺寸以使所接收图像与作为那个介质项目参考的空间尺寸相匹配的附加步骤。这样可以对任何具有增加部分(例如胶布)或具有收缩或扩展或诸如此类的介质项目进行补偿。用于将所捕获图像与参考图像自动对准然后对所捕获的图像进行修剪或添加以匹配所述参本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对介质项目中的缺损进行分类的方法，所述方法包括以下步骤：接收所述介质项目的二进制图像，其中所述二进制图像包括多个像素，每一个像素都具有潜在缺损亮度或非缺损亮度；识别包括连续像素的一个或多个斑点，每一个连续像素都具有潜在缺损亮度；对于每一个识别出的斑点，将所述斑点的尺寸与损坏阈值进行比较；如果所述斑点尺寸小于所述损坏阈值则忽略所述斑点；以及对于每一个具有的尺寸大于或等于损坏阈值的识别出的斑点，分类所述识别出的斑点。

【技术特征摘要】
2012.04.30 US 13/460,1721.一种对介质项目中的缺损进行分类的方法，所述方法包括以下步骤：接收所述介质项目的二进制图像，其中所述二进制图像包括多个像素，每一个像素都具有潜在缺损亮度或非缺损亮度；识别包括连续像素的一个或多个斑点，每一个所述连续像素都具有潜在缺损亮度；对于每一个识别出的斑点，将所述斑点的尺寸与损坏阈值进行比较；如果所述斑点尺寸小于所述损坏阈值则忽略所述斑点；对于每一个尺寸大于或等于损坏阈值的识别出的斑点，将所述识别出的斑点分类为以下一个或多个类别：撕裂，缺失部分，角部折叠和洞，其中缺失部分可进一步被归类为角部缺失，当存在潜在角部折叠时，检查未重叠区域的像素亮度和与潜在角部折叠相关的其他像素亮度，并且当所述与潜在角部折叠相关的所述其他像素亮度没有基本上低于所述未重叠区域的所述像素亮度时，将所述斑点分类为角部缺失；以及比较被分类的斑点与在缺损轮廓配置文件中的相应不适用值以便确定所述介质项目是否应当被归类为不适用。2.根据权利要求1所述的方法，其中识别一个或多个斑点的步骤包括使用改进的合并-查找结构算法。3.根据权利要求2所述的方法，其中所述改进的合并-查找结构算法包括：在所述二进制图像的每一行上识别出连续并且具有潜在缺损亮度的每一个像素组；对每一个行边界识别出：(i)上行中至少与下行中的组部分重叠的每一个组，且将上行和下行中的重叠的组合并成作为增长斑点的新的单一组，(ii)上行中未与下行中的组重叠的每一个组，并且将上行中每一个这样的组表征为完整的斑点，以及(iii)下行中未与上行中的组重叠的每一个组，并且将下行中每一个这样的组表征为增长斑点。4.根据权利要求1所述的方法，其中对所述识别出的斑点进行分类的步骤包括进一步的步骤：(a)如果所述斑点未接触所述介质项目的其中一个边缘，那么就将识别出的斑点归类为洞。5.根据权利要求4所述的方法，其中对所述识别出的斑点进行分类的步骤包括进一步的步骤：(b)如果所述识别出的斑点确实接触了所述介质项目的其中一个边缘，但是并不在所述介质项目的其中一个角部，那么就将所述识别出的斑点归类为撕裂或缺失部分。6.根据权利要求5所述的方法，其中对所述识别出的斑点进行分类的步骤包括进一步的步骤：(c)如果所述识别出的斑点确实接触了所述介质项目的其中一个角部，那么就判别所述识别出的斑点是否是角部折叠。7.根据权利要求6所述的方法，其中对所述识别出的斑点进行分类的步骤包括进一步的步骤：(d)如果所述识别出的斑点确实接触了所述介质项目的其中一个角部但不是角部折叠，那么就将所述识别出的斑点归类为缺失部分。8.根据权利要求7所述的方法，其中对所述识别出的斑点进行分类的步骤包括进一步的步骤：(e)如果所述识别出的斑点确实接触了所述介质项目的其中一个角部并且是角部折叠，那么就将所述识别出的斑点归类为角部折叠。9.根据权利要求1所述的方法，其中所述方法包括将适用度规则应用至分类斑点以判别所述介质项目是否应被归类为不适用的附加步骤。10.根据权利要求1所述的方法，其中所述缺损轮廓配置文件包括：缺损类型参数，其中所述缺损类型是介质项目上可能会出现的缺损类型；缺损尺寸域；以及逻辑参数，其表示缺损尺寸域内的一个或多个缺损尺寸参数如何关联。11.一种介质验证器，其可操作用于对向其提交的介质项目上的缺损进行分类，所述介质验证器包括：用于传送介质项目的介质项目传送机；图像捕获装置，其与所述介质项目传送机对齐，并且用于捕获与所述介质项目相对应的二维阵列像素，每一个像素都具有与所述介质项目在介质项目上对应于该像素的空间位置处的性质相关的像素亮度；以及处理器，其编程用于控制所述介质传送机及所述图像捕获设备，并且也编程用于：(a)识别包括连续像素的一个或多个斑点，每一个所述连续像素都具有潜在缺损亮度；(b)对于每一个识别出的斑点，将所述斑点的尺寸与损坏阈值进行比较；(c)如果所述斑点尺寸小于所述损坏阈值则忽略所述斑点；以及(d)对于每一个尺寸不小于所述损坏阈值的识别出的斑点，将所述识别出的斑点分类为以下一个或多个类别：撕裂，缺失部分，角部折叠和洞，其中缺失部分可进一步被归类为角部缺失，当存在潜在角部折叠时，检查未重叠区域的像素亮度和与潜在角部折叠...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈萍，何超，佳里·罗斯，
申请(专利权)人：NCR公司，
类型：发明
国别省市：