温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种超薄绝缘体上硅结构的制作方法及半导体器件的制作方法。所述半导体器件的制作方法包括:提供绝缘体上硅;在顶硅层上形成硬掩模层,对硬掩模层进行图案化处理;测量暴露的顶硅层每个区域的实际厚度;在暴露的顶硅层中注入掺杂离子,掺杂离子的注入剂量与注...该专利属于中芯国际集成电路制造(上海)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过中芯国际集成电路制造(上海)有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
一种超薄绝缘体上硅结构的制作方法及半导体器件的制作方法。所述半导体器件的制作方法包括:提供绝缘体上硅;在顶硅层上形成硬掩模层,对硬掩模层进行图案化处理;测量暴露的顶硅层每个区域的实际厚度;在暴露的顶硅层中注入掺杂离子,掺杂离子的注入剂量与注...