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大口径空间光学系统外场波前像差测量方法，属于光学系统先进制造技术领域，为解决现有检测手段无法满足大口径空间光学系统的外场波前像差测量要求的问题，本发明测量方法包括：一、测量条件初始化，将四维调整架和小口径平行光发生装置放在被测光学系统前的适...
该专利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院长春光学精密机械与物理研究所授权不得商用。

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