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本发明涉及微电子学中的抗辐射集成电路设计领域，为提供基于TMR和DICE的抗辐射加固锁存器，实现对内部数据的SEU进行防护。为此，本发明采用的技术方案是，基于三模冗余和DICE的抗辐射加固锁存器，输入级由四个表决模块1、2、3、4构成；表决...
该专利属于天津大学所有，仅供学习研究参考，未经过天津大学授权不得商用。

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