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含有SiNx插入层的极性c面GaN基的半导体器件的制备方法技术
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下载含有SiNx插入层的极性c面GaN基的半导体器件的制备方法的技术资料
文档序号:9199251
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本发明公开了含有SiNx插入层的极性c面GaN基的半导体器件的制备方法,其步骤是:(1)将c面蓝宝石衬底置于MOCVD反应室中,通入氢气与氨气的混合气体,对衬底进行热处理;(2)在衬底上生长厚度为10-30nm,温度为580-620℃的低温...
该专利属于西安电子科技大学所有,仅供学习研究参考,未经过西安电子科技大学授权不得商用。
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