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本发明公开了一种非挥发性存储器棋盘格测试电路，包括：棋盘格地址产生电路、读控制信号产生电路、数据比较电路。棋盘格地址产生电路包括N位地址寄存器、N位带进位/借位的加/减法器和加/减控制电路。以最高位位加/减法器的进位/借位位作为检测结束信号...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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