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本发明涉及纠错码技术领域，公开了一种基于并行编码译码的循环汉明码的纠错方法，包括：先分析传统的串行循环冗余校验（CRC）编码电路的结构得到串行CRC编码电路的五个寄存器中的数据之间的递推关系式；再将递推关系式展开得到并行编码中校验位和信息位...
该专利属于中国科学院微电子研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院微电子研究所授权不得商用。

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