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本发明涉及一种测试由基片支撑的微电子电路的方法、测试器设备及便携式组装。所述便携式组装包括：用于支持基片的便携式支撑结构，所述基片上载有微电子电路，且具有连接至所述微电子电路的多个端子；在所述便携式支撑结构上的多个接点，所述接点与所述端子匹...
该专利属于雅赫测试系统公司所有，仅供学习研究参考，未经过雅赫测试系统公司授权不得商用。

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