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本发明公开了一种比特失效模式统计方法及装置，将获取的待处理存储器芯片单元的比特失效的原始数据利用Perl脚本进行分析和计算，不仅极大的降低了生产成本，又能够快速的统计出每批产品的比特失效模式结果，从而直观的展现出何种比特失效模式对产品的良率...
该专利属于上海华力微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华力微电子有限公司授权不得商用。

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