温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本实用新型公开一种电子元件测试装置的探针头，其中所述电子元件测试装置是由一座体、一盖体、一承载平台、多个弹性元件及多个探针单元所组成，以检测一四方扁平封装半导体的每一引脚的电气导通状态，且所述每一探针单元至少包括一外管、一弹簧及一探针头。本...
该专利属于中国探针股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中国探针股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。