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提供一种探测卡，进行高密度的被测微电路基板的电气检查时使用。具备：多个探针；绝缘体，具有该探针贯通的多个贯通孔；以及位于该绝缘体的两侧，具有分别插入探针的端部的支撑孔的一对基板，该一对基板设置为能够与所述绝缘体滑动，并且该一个基板由热膨胀系...
该专利属于株式会社奥普特尼克斯精密所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社奥普特尼克斯精密授权不得商用。

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