下载芯片及其测试模式保护电路和方法的技术资料

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本发明涉及一种芯片及其测试模式保护电路和方法。其中,保护电路包括:动态信号产生器,设置在芯片中,用于生成随机的第一动态信号,根据第一动态信号,生成第二动态信号;有效金属线,设置在芯片的划片槽中,用于将第一动态信号从芯片中延伸至划片槽,将由第...
该专利属于北京昆腾微电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京昆腾微电子有限公司授权不得商用。

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