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本发明提供一种半导体装置及其自动外观检查方法，通过自动外观检查装置适当地获得从半导体装置的端部向元件形成区域方向产生的崩边的大小，能够避免将外观良品判断为外观不良品的问题。该半导体装置具有：树脂层，除了围绕元件形成区域的护圈的多个局部部分以...
该专利属于半导体元件工业有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过半导体元件工业有限责任公司授权不得商用。

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