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本发明公开了一种短路检测方法及装置，所述短路检测方法包括以下步骤：通过曝光转印法对一阵列基板线路进行转印，形成转印后的线路；检测转印后的线路中的断路位置；根据所述断路位置分析阵列基板线路的短路位置。本发明实现了将基板线路中短路检测转化为断路...
该专利属于深圳市华星光电技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市华星光电技术有限公司授权不得商用。

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