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本装置属于机械表面加工测量装置，其结构由机械部分、光学部分、控制电路部分及微处理器组成，机械部分以磨床为主体，以光束为探测手段，由发光管、经透镜照射到加工件上，然后通过物镜照射到光电器件上成像，由光信号变成电信号，而后输入到微处理器，其优点...
该专利属于中国科学院沈阳自动化研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院沈阳自动化研究所授权不得商用。

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