【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术属于机械表面加工测量装置。目前此种测量方法是一种尚待解决的技术难题，主要来源于平面磨床的磨削加工过程的动态测量，但存在的问题是在于加工表面充满污水，工作台附近有强大电磁场以及加工表面不连续，这就使常规机电仪器无法测量，现在已有先进的平面磨床配备了马尔波斯公司的一种检测仪器，它的探测部件仍是一种机械接触式的，不适用于断续表面的测量，所以仍需仃机检测，在没有动态测量手段的情况下，为保证加工精度，势必一再仃机，甚至要取下工件，去磁、清理表面后进行测量，降低了工效。为解决以上之不足，本专利技术的目的提供一种无触点动态测试装置，是以光束为探测手段，不受磁场影响，不管加工件表面的间断，为一种无触点非接触式的测量装置，有效的解决了磨床加工表面的平面动态测量。本专利技术的技术设计是这样实现的本监控装置其结构由机械部分、光学部分、控制电路部分及微处理机部分四部分组成。机械部分以磨床为主体，中间为螺杆导轨及螺杆装置，决定于磨刀砂轮的升降，在其侧面装有砂轮及砂轮护罩，螺杆装置上固定有无触点传感器壳体，内部装有控制电路及光学器件部分，光学器件部分有发光光源，聚光透镜和物镜...
【技术保护点】
一种无触点表面定位测量监控装置，以磨床加工机械为主体，其特征在于定位测量部分由光学部分、控制电路部分及微机组成，其中光学部分有光源Ａ、聚光镜Ｂ、物镜Ｅ组成；控制电路由Ⅰ线阵ＣＣＤ驱动电路，Ⅱ线阵光电转换器件ＣＣＤ，Ⅲ两级低放电路，Ⅳ电位检出电路和Ⅴ单片机８０３１组成。
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
【专利技术属性】
技术研发人员：郭爱力，董丽春，
申请(专利权)人：中国科学院沈阳自动化研究所，
类型：发明
国别省市：89[中国|沈阳]
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