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一种基于声压反射系数自相关函数的薄层厚度超声检测方法，属于无损检测技术领域。该方法使用超声脉冲回波技术和声压反射系数自相关信号处理方法进行薄层厚度测量。首先使用超声脉冲回波系统采集一个包含薄层上表面和下表面的反射回波信号，再采集一个标准试块...
该专利属于大连理工大学所有，仅供学习研究参考，未经过大连理工大学授权不得商用。

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