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本发明公开了一种光电二极管芯片的筛选方法，该方法包括：步骤一、取解理好的芯片进行光电测试，利用打点器在不合格芯片上喷打UV胶水进行标记；步骤二、测试完成后将电子级透明玻璃纸贴到芯片的上表面，使UV胶水与不合格芯片及玻璃纸充分的接触；步骤三、...
该专利属于武汉电信器件有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉电信器件有限公司授权不得商用。

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