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本实用新型公开了一种用于测量物体表面形貌的系统，包括发射端光梳（1）、光学色散元件（2）、显微物镜（3）、二维纳米移动平台（4）、二维精密纳米移动电机（5）、本地振荡光梳（6）、光电探测器（7）、半透半反镜（8），所述发射端光梳（1）产生探...
该专利属于广东汉唐量子光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过广东汉唐量子光电科技有限公司授权不得商用。

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