下载一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头的技术资料

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本实用新型为一种用于微纳米尺度二维尺寸测量的微触觉测头,其特征在于:所述的微触觉测头由圆形基底、电容式传感器阵列、悬梁、测针、悬挂弹簧及限位结构组成;圆形基底用于固定传感器阵列及悬梁;电容式传感器阵列作为敏感单元,用以感知位移变化;悬梁用于...
该专利属于上海市计量测试技术研究院所有,仅供学习研究参考,未经过上海市计量测试技术研究院授权不得商用。

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