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一种半导体测试结构，包括：半导体衬底；位于半导体衬底上至少两个栅极结构；位于半导体衬底和栅极结构表面的介质层；位于所述栅极结构两端的共享接触插塞，所述共享接触插塞贯穿介质层一部分位于栅极结构一端的表面，一部分位于栅极结构相应一侧的半导体衬底...
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