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磁阻元件结构形成方法技术
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文档序号:8684350
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本发明提出一种磁阻元件结构形成方法,包含:提供基板;于该基板上方形成金属镶嵌结构,再于该金属镶嵌结构上方形成图形化磁阻单元,与该金属镶嵌结构完成电性连接。本发明所述之磁阻元件结构形成方法,不但可将集成电路与磁阻材料整合在一起,达到体积极小化...
该专利属于宇能电科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过宇能电科技股份有限公司授权不得商用。
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