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半导体存储装置及其测试电路制造方法及图纸
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文档序号:8683708
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本发明公开了一种半导体存储装置,包括:存储器单元阵列,所述存储器单元阵列被配置成包括多个存储器单元;开关单元,所述开关单元被配置成与数据输入和输出焊盘耦接,且响应于测试模式信号来控制施加至所述数据输入和输出焊盘的数据的数据传输路径;写入驱动...
该专利属于海力士半导体有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过海力士半导体有限公司授权不得商用。
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