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本发明公开了一种超级结器件，电流流动区的各处的薄层宽度比都相同；至少部分的终端保护结构的薄层宽度比小于电流流动区的薄层宽度比；电流流动区的各处的所述杂质总量比都相同，至少部分的终端保护结构的杂质总量比小于电流流动区的所述杂质总量比；至少一个...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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