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基于方向场分布的指纹校正方法技术
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下载基于方向场分布的指纹校正方法的技术资料
文档序号:8656151
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本发明提供了一种基于方向场分布的指纹校正方法,该方法通过聚类学习的方式对指纹脊线方向的局部模式和空间分布进行了统计,通过局部模式对比的方式寻找目标图像中与指纹模式类似的区域,再结合各局部模式的空间位置分布消除出现在不合理位置的局部模式的影响...
该专利属于清华大学所有,仅供学习研究参考,未经过清华大学授权不得商用。
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