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本发明涉及芯片测试领域，具体涉及数字类电子表芯片测试仪。数字类电子表芯片测试仪，包括：探针台，探针卡，主控芯片，测试晶圆芯片的管脚上的保护二极管是否完好的参数测试电路，测试晶圆芯片在上电且有时钟的情况下工作时的功耗的IDD参数测试电路，测试...
该专利属于深圳安博电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳安博电子有限公司授权不得商用。

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