温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种具有可扩展性漂移区电阻的高压晶体管模型方法,包括以下步骤:第一步,按照器件结构,将漏侧漂移区分为三部分:沟道有源区下的漂移区Loverld、场氧下的漂移区Ldrift1和漏极有源区下的漂移区Ldrift2;将源侧漂移区也分为...该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。
温馨提示:您尚未登录,请点 登陆 后下载,如果您还没有账户请点 注册 ,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本发明公开了一种具有可扩展性漂移区电阻的高压晶体管模型方法,包括以下步骤:第一步,按照器件结构,将漏侧漂移区分为三部分:沟道有源区下的漂移区Loverld、场氧下的漂移区Ldrift1和漏极有源区下的漂移区Ldrift2;将源侧漂移区也分为...