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本发明公开了一种冗余图形的填充方法，包括步骤：1)根据半导体器件中各层次的相互关系，计算出芯片上不可填充冗余图形区域与可填充冗余图形区域；2)以不可填充冗余图形区域的边界作为填充算法的起始边，环状填充冗余图形，每一次环状填充为填充算法的一个...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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